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第799章 元件耐受标准（第5页）

他指着标准文件上的规定，“这里写得很清楚，高温老化必须满

1000

小时，他们只做了

600

小时。”

电路分析组则发现了更严重的问题：为了提高系统响应速度，设计人员在电路中增加了推动级的电流，虽然平均功耗仍在标准范围内，但瞬时峰值已经超出了晶体管的安全工作区。“1962

年标准里特别强调了脉冲工作状态下的参数校核，我们忽略了这一点。”

设计负责人在分析会上承认，“连续工作没问题，但在快速切换时，就容易出问题。”

环境调查组的发现同样令人心惊。测试场地的供电系统存在高频干扰，虽然幅度不大，但会导致晶体管的工作点漂移。“标准里对电磁兼容性有要求，但我们的滤波电路设计得太简单了。”

年轻技术员小张拿着频谱分析仪的记录，脸上满是自责，“以前在实验室里没遇到过这么复杂的电磁环境。”

三天三夜的连续奋战，真相逐渐浮出水面：这次事故是元件质量把关不严、电路设计存在缺陷、使用环境考虑不足共同作用的结果，而这三个方面，都与对

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年《元件耐受标准》的执行不到位有着直接关系。当老张把汇总的报告放在桌上时，晨光已经透过窗户照进会议室，在每个人布满血丝的眼睛里，映出复杂的神情。

四、标准的重塑：在教训反思中的自我完善

1966

年

8

月，全国晶体管质量与标准工作会议在北京召开。来自生产厂家、科研院所和使用单位的代表们挤满了会议室，桌上整齐地摆放着两份文件：1962

年的《元件耐受标准》和刚刚整理出来的事故分析报告。窗外的蝉鸣聒噪不休，会议室里却气氛凝重，每个人都明白，这次会议将决定未来元件标准的走向。

“事故不能白出，教训必须吸取。”

主持会议的老专家把烧损的晶体管标本摆在桌上，透过放大镜可以清晰地看到芯片上烧毁的痕迹，“1962

年的标准是不是过时了？我看不是。问题在于我们执行得不够彻底，甚至在某些方面还有所倒退。”

某晶体管厂的厂长第一个站起来发言，声音带着愧疚：“我们承认，为了完成生产指标，在质量上打了折扣。老化试验时间不足，环境测试流于形式，这是对前线战士的不负责任。”

他的厂里生产的晶体管在事故中占了

60%，来开会前，他已经在厂里主持了三天的反思会。

设计单位的代表也做了深刻检讨：“我们过于追求技术指标的先进，忽视了可靠性的基础。对标准的理解停留在表面，没有结合实际使用环境进行细化设计。”

他展示了新旧两种电路设计的对比图，“按照

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年标准重新核算后，我们发现原来的设计在三个方面存在隐患，现在已经全部修改。”

会议期间，代表们就标准的修订展开了激烈讨论。有人建议提高晶体管的耐温等级，有人主张增加电磁兼容性的要求，还有人提出应该根据不同使用场景制定更细致的分类标准。争论最激烈的是关于测试方法的改进，年轻工程师们主张引进国外先进的自动测试设备，而老工程师们则坚持保留传统的环境模拟测试。

“自动测试效率高，但模拟不了真实的战场环境。”

参与过

1962

年标准制定的老王激动地说，“当年我们在雪地里、沙漠里测出的数据，比任何实验室都真实。标准修订不能丢了这个根本。”

他的话得到了许多从一线回来的代表的认同。

经过半个月的讨论，标准修订方案最终确定。新版标准在

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